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    光电效应实验仪
    更新时间:2025-01-09
    产品型号:HAD-GD-1A
    描述:光电效应实验仪型号:HAD-GD-1A
    半导体激光器:光谱650nm;作电压:DC2.6V~3.2V;光电管作电压:DC-2V~30V;微电测量:20μA,200μA,2000μA;分辨率0.01μA;光率:量程2mW;分辨率0.001 mW;数字电压表:量程200V;分辨率0.1V;实验暗箱:460ⅹ105ⅹ90mm。

    HAD-GD-1A光电效应实验仪的详细资料:

    光电效应实验仪型号:HAD-GD-1A

    半导体激光器:光谱650nm;作电压:DC2.6V~3.2V;光电管作电压:DC-2V~30V;微电测量:20μA,200μA,2000μA;分辨率0.01μA;光率:量程2mW;分辨率0.001 mW;数字电压表:量程200V;分辨率0.1V;实验暗箱:460ⅹ105ⅹ90mm。

    光电效应实验仪型号:HAD-GD-1A











    2.活性炭粒度测定仪/活性炭粒度测试仪/活性碳粒度检测仪?? 型号:HAD-LD3

    主要部件及主要参数:

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    测颗粒粒度测定仪的主要部件及参数

    l???????? 转速:150±2r/min

    转轴偏心距:20?±1mm

    2.定时器

    3.电压:220V??? 功率:0.5KW

     

     

     

    3.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3

    概述
    HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.HAD 标准。
    仪器成套组成:由HAD-3主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。
    仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度自校功能;手动/自动转换量程可??;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
    探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻?;簧纤亩俗硬馐约芯?,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
    详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
    仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
    三、基本技术参数
    1. 测量范围、分辨率
    电??? 阻:???? 0.010 ~ 50.00kΩ,???? 分辨率0.001 ~ 10 Ω
    率:???? 0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD
    方块电阻:???? 0.050~ 100.00kΩ/□?? 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
    2. 可测材料尺寸
    手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:
    直??? 径:HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130HADHAD。
    HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
    长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
    测量方位: 轴向、径向均可.

     

     

     

    4.多功能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C

    概述
    HAD-2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
    仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,最大分类10类。
    探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻?;簧纤亩俗硬馐约芯?,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
    测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台,也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
    仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
    三、基本技术参数
    1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级)
    电??? 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103? Ω,??? 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103? Ω
    ???????? (1.0×10-6 ~ 20.00×103? Ω,??? 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
    率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm?? 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103? Ω-cm
    ???????? (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm? 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
    方块电阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□??? 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103? Ω/□
    ???????? (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□? 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103? Ω/□)
    2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
    直??? 径: HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限
    HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
    长(高)度:? 测试台直接测试方式 H≤100mm,??? 手持方式不限.
    测量方位:? 轴向、径向均可

     

     

     

    5.自动表面/界面张力仪/表面张力仪 型号:HA/BZY-203

    HA/BZY系列自动表面/界面张力仪除了升降系统是手动操作外,。具有高性能设计,经济型定位的特点,有着的性价比。

    主要特征:
    1. 铂金板或铂金环测试原理,操作简单方便;
    2. 自动数字化测量,减少人为操作误差;
    3. 全量程一键清零,瞬间完成,零位无漂移;
    4. 全量程自动校正,数据准确可靠、重复性;

    5. 铂金板测试时,显示值即为试样的表面/界面张力值,铂金环测试时,具有峰值保持功能,需通过Exce计算或通过数据处理软件自动换算成表面/界面张力值;
    6. 仪器结构紧凑,独立工作。也可选配多功能数据处理软件,得到更多的信息;
    7. 能测量试样的表面张力因时间不同而产生的变化(特别是有表面活性剂或含有挥发性物质时,限铂金板测试模式下);
    8. 自动量测中、高粘度液体样品并得到准确的平衡结果(限于铂金板测试模式);
    9. 可测量不相混合液体之间界面张力如:油/水界面; 
    10.可取代传统机械式表面张力仪,且精度更高、重复性更好、使用更方便;
    11.本系列仪器除了手动控制试样平台升降外,主要结构和技术参数与QBZY系列相仿,具有高品质设计、经济型价格,性价比特高。

    以上参数资料与图片相对应







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